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?009 Fairchild Semiconductor Corporation
www.fairchildsemi.com
QVE11233 Rev. 1.0.1
2
 
Absolute Maximum Ratings
 
(T
 
A
 
= 25癈 unless otherwise specified)
Stresses exceeding the absolute maximum ratings may damage the device. The device may not function or be
operable above the recommended operating conditions and stressing the parts to these levels is not recommended.
In addition, extended exposure to stresses above the recommended operating conditions may affect device reliability.
The absolute maximum ratings are stress ratings only.
 
Notes:
 
1. Derate power dissipation linearly, on each component, 1.67mW/癈 above 25癈.
2. RMA flux is recommended.
3. Methanol or isopropyl alcohols are recommended as cleaning agents.
4. Soldering iron tip 1/16 (1.6mm) from housing.
 
Electrical/Optical Characteristics
 
 (T
 
A
 
 = 25癈)
 
 
 
Symbol
Parameter
Rating
Units
 
T
 
OPR
 
Operating Temperature
-40 to +85
癈
T
 
STG
 
Storage Temperature
-40 to +85
癈
T
 
SOL-I
 
Soldering Temperature (Iron)
 
(2)(3)(4)
 
240 for 5 sec
癈
T
 
SOL-F
 
Soldering Temperature (Flow)
 
(2)(4)
 
260 for 10 sec
癈
 
INPUT (EMITTER)
 
I
 
F
 
Continuous Forward Current
50
mA
V
 
R
 
Reverse Voltage
6
V
P
 
D
 
Power Dissipation
 
(1)
 
100
mW
 
OUTPUT (SENSOR)
 
V
 
CEO
 
Collector to Emitter Voltage
30
V
V
 
ECO
 
Emitter to Collector Voltage
4.5
V
I
 
C
 
Collector Current
20
mA
P
 
D
 
Power Dissipation
 
(1)
 
150
mW
 
Symbol
Parameter
Test Conditions
Min.    Typ.   Max.   Units
 
INPUT (EMITTER)
 
V
 
F
 
Forward Voltage
I
 
F
 
 = 20mA
1.7
V
I
 
R
 
Reverse Leakage Current
V
 
R
 
 = 2V
100
礎
 
OUTPUT (SENSOR)
 
BV
 
ECO
 
Emitter to Collector Breakdown
I
 
E
 
 = 100礎, E
 
e
 
 = 0
5.0
V
BV
 
CEO
 
Collector to Emitter Breakdown
I
 
C
 
 = 1mA, E
 
e
 
 = 0
30
V
I
 
CEO
 
Collector to Emitter Leakage
V
 
CE
 
 = 10V, E
 
e
 
 = 0
100
nA
 
COUPLED
 
I
 
C(ON)
 
On-State Collector Current
I
 
F
 
 = 20mA, V
 
CE
 
 = 5V
0.5
mA
V
 
CE (SAT)
 
Saturation Voltage
I
 
F
 
 = 20mA, I
 
C
 
 = 0.25mA
0.40
V
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